Spherical Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy
所在单位仪器编号：202302220B
制造商：日本电子株式会社
规格型号：JEOL/JEM-ARM200F
地址：广西科技大学文昌校区工程训练中心1号楼102
主要功能：
可以用来观察样品的形貌和物相分布，高分辨像可用于确定材料的晶体结构，观测微量相的分布、晶体缺陷及界面结构等；同时可用于材料的化学成分的定性、定量及面分布等分析。
主要技术指标：
200 kV、80 kV、60 kV下STEM图像分辨率分别为0.078 nm、0.111 nm、0.136 nm；200 kV下能量发散度低于0.5eV。
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